產品服務
ULTRA全自動影像測量儀系列
AVANT一鍵式影像測量儀
EXTRA半自動影像測量儀系列
PEAK緊湊型影像測量儀系列
BASIC手動影像測量儀系列
RANGER刀具檢測儀系列
HE龍門式影像儀系列
CMM三坐標測量儀
三坐標夾具套裝
影像儀夾具套裝
金相顯微鏡
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
導航×
新聞資訊
News
金相顯微鏡的樣品臺高度如何調整
時間：11-04 2023 來自：祥宇精密
一、金相顯微鏡樣品臺高度調整的重要性
金相顯微鏡是一種用于觀察金屬和合金顯微結構的精密儀器。樣品臺是金相顯微鏡的一個重要組成部分，它用于放置待觀察的樣品。樣品臺的高度調整直接影響到金相顯微鏡的成像質量和觀察效果。如果樣品臺高度調整不當，會導致圖像失真、模糊不清等問題，甚至會對樣品造成損壞。因此，正確調整樣品臺高度是非常重要的。
二、金相顯微鏡樣品臺高度調整方法
- 打開金相顯微鏡的電源開關，將顯微鏡預熱10-15分鐘。
- 將待觀察的樣品放置在樣品臺上，確保樣品表面平整、無劃痕、無污染。
- 調整樣品臺的Z軸高度。Z軸是金相顯微鏡的一個軸向，通過旋轉Z軸旋鈕，使樣品表面與物鏡平行。一般來說，樣品表面應與物鏡平行，以獲得最佳的觀察效果。
- 調整樣品臺的X軸和Y軸高度。X軸和Y軸是金相顯微鏡的兩個橫向軸向，通過旋轉X軸和Y軸旋鈕，使樣品表面與物鏡垂直。在調整過程中，可以使用顯微鏡的視場光闌或測微尺等工具來輔助調整。
- 觀察顯微鏡中的圖像，檢查樣品表面是否清晰可見。如果需要進一步調整，可以微調Z軸、X軸和Y軸的高度，直到獲得清晰的圖像為止。
- 調整完畢后，關閉金相顯微鏡的電源開關，將樣品臺上的樣品取下，完成整個調整過程。
三、調整過程中需要注意的事項
- 在調整樣品臺高度時，一定要輕拿輕放，避免對顯微鏡造成損壞。
- 在調整過程中，要保持手部清潔，避免污染樣品臺和顯微鏡鏡頭。
- 在觀察圖像時，要保持安靜，避免因震動或氣流等原因影響觀察效果。
- 如果在調整過程中出現任何問題，可以聯系專業技術人員進行維修和保養。
聯系方式
400-801-9255
地 址：廣東省東莞市長安鎮崗頭橫誠路4號
聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
郵 箱：dgxycmm@163.com
聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
郵 箱：dgxycmm@163.com
-
產品服務
-
解決方案
-
視頻中心
-
新聞資訊
-
關于我們
微信咨詢詳情
- 137 9887 5672
- 7*24小時客服電話
